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应用分享|高精密数字源表在霍尔效应测试中(石铁配件厂)

2021-12-10 19:10:12 废气处理设备 浏览数:3257
当电流垂直于外磁场通过半导体时,载流子发生偏转,垂直于电流和磁场的方向会产生附加电场,从而在半导体的两端产生电势差,这一现象就是霍尔效应,这个电势差也被称为霍尔电势差。VOC将某种半导体材料的霍尔元器件置于待测磁场的相应位置,并使元件平面与磁感应强度B垂直(磁感应强度可由励磁装置提供,恩智NGI2600系列源表提供励磁电流Im),由NGIN2600源表在其控制端输入精确的恒定工作电流Is,霍尔电压输出端精确测量霍尔电势UH的值。石铁配件厂测试数据处理与分析:在励磁电流Im=0.80000A时,霍尔电压UH与Is的测量数据与关系曲线如下:表1 UH-Is Im=0.80000AN2600系列高精密数字源表还采用七档电流范围设置,可以将接收的数据误差降低;源表扫描速度可达1ms每点,能快速的建立扫描,缩短测试时间,有效减少待测物的热磁效应,可以高效满足霍尔效应测试需求。                        产品选型关于恩智恩智测控(NGI)为智能设备与测控仪器的专业制造商。通过不断深入接触并了解各相关行业的测控与电子电路技术需求,持续投入研发并向各行业合作伙伴提供具有竞争力的解决方案,NGI已经拥有了广泛的测控和电子技术类产品线,如电源&电子负载产品线,电池模拟器产品线、NXI测控产品线、充放电测试产品线及各种专业测试系统等,并致力于为客户提供电池、汽车电子、燃料电池、消费类智能终端、新能源汽车、半导体等行业应用解决方案。

据相关数据统计,在AI、5G、汽车智能化、物联网等下游应用的推动下,全球半导体总需求未来十年将仍然保持稳定增长。石铁配件厂随着应用技术的不断发展,对于半导体材料表征的要求也越来越高,霍尔效应测试是半导体材料的重要测试方法,它可以测得半导体材料的导电类型、载流子浓度、托移率、电阻率、霍尔系数等参数,同时还可以用于研究半导体中的杂质和电活性缺陷,所以高精度的霍尔表征对于半导体材料尤为关键。如图所示,若在X方向上通以电流Is,在Z方向上加磁场B,半导体中载流子(电子)将受到洛伦兹力,则在Y方向上半导体两侧产生附加电场---霍尔电场。

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石铁配件厂其次,N2600系列源表可提供1、3象限电流源,使控制端输入电流可正反向,励磁电流正反向也可使励磁磁场正反向。

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